Současné metody pro snímání otisků prstů nefungují zdaleka bezproblémově. Kromě známého „poprašování“ místa existují i sofistikovanější metody založené především na rozborech chemického složení povrchu či mikroskopii atomové síly (Atomic Force Microscopy – AFM).
Robert Prance a jeho kolegové z University of Sussex v britském Brightonu nyní přišli s postupem, jak zachytit otisk prstu pomocí malého množství statického elektrického náboje, který prst zanechá na površích s vlastnostmi izolantů (sklo, plast…). Pokud se otisky snímají do 75 minut, jsou výsledky z hlediska přesnosti srovnatelné s jinými moderními metodami, získají se však mnohem rychleji.
Zajímavé je ale hlavně to, že v průběhu následujících 14 dnů náboj klesal. Pokud by se metodu podařilo nějak vhodně kalibrovat podle různých vnějších podmínek (vlhkost…), mohla by sloužit i k určení doby, kdy otisk vznikl. Samotná identifikace by se pak už prováděla nějakou přesnější metodou.
Ve forenzních aplikacích by určitě bylo zajímavé, že by takto šlo vyloučit např. falešně pozitivní důkazy (otisk vzniklý kdysi dávno před vraždou) a zacílit na skutečné podezřelé. Faktem ale je, že i když se metodu podaří nějak standardizovat, stejně je omezena na nevodivé povrchy, což vylučuje většinu střelných zbraní, nábojnic apod.
Zdroj: New Scientist
Poznámka: Pro biometrii/IT systémy to asi nemá význam, protože zde při přihlášení systém stejně zaznamenává čas. Nebo by i zde mohlo být nějaké využití?
